La formation en mesure tridimensionnelle
Métrologie des surfaces : COFFMET SURF

Métrologie de surface pour des décisions sécurisées et une communication inter-divisions rentable
Présentation de la formation
Objectifs pédagogiques
- Situer les informations dans les normes d’états de surfaces 2D et 3D
- Décomposer une spécification d’état de surface 2D ou 3D
- Apprécier et traduire des résultats de mesures
- Examiner et interpréter des profils 2D ou surfaces 3D à travers certains paramètres
1 Méthodes pédagogiques
Méthode pédagogique alternant théorie, exercices en fin de module et démonstrations sur logiciels et appareils
2 Compétences visées
Intégrer la métrologie des surfaces selon les normes internationales
3 Moyens d'évaluation
Quiz de fin de module + examen de fin de formation
4 Personnel concerné
Techniciens de mesure de production, ingénieurs de production, développeurs, ingénieurs concepteurs, responsables AQ
5 Prérequis
Aucun prérequis technique
6 Le programme de la formation
Savoir expliquer ce qu’est un filtre, ce que sont une analyse spectrale et un spectre
- Fondamentaux et historique
o Test de l’ongle
o Méthode du palpeur
o Surveillance de la production - Appareils de mesure et capteurs
o Palpeurs tactiles et optiques - Filtres et longueurs d’onde de coupure
o Introduction au filtrage
o Passe-haut, Passe-bas, Passe-bande
o Longueurs d’onde de coupure λc, λs, λf
o Analyse de Fourier
o Analyses spécifiques, types de filtres et autres applications du filtrage numérique - Mesure
o Choix de l’appareil de mesure
o Préparation de l’appareil et emplacement de la mesure
o Règles d’acceptation des tolérances - Paramètres 2D (ISO 21920)
o NF EN ISO 21920 : les changements de la nouvelle norme
o NF EN ISO 4287 : anciens et nouveaux paramètres - Spécification
o Spécification ISO 1302, VDA 2005 et ISO 21920- 1
o Délimitation des imperfections de surface - Étalonnage
o Ajustage, qualification et étalonnage des appareils de mesure - Nouveautés de l’ISO21920
o Motivation des nouvelles normes de profil - Paramètres 3D (ISO25178)
o Séquence de mesure surfacique
o Filtrage de mesure surfacique
o Paramètres 3D
o Différence entre rugosité de profil et de surface - Méthode des motifs ISO12085
o Conditions de mesure par la méthode des motifs et applications - Examen
